电子元器件的成分分析检测可以帮助识别材料的组成、质量和合规性。常见的检测方法包括：1. 光谱分析· X射线荧光光谱（XRF）：用于快速分析材料的元素组成，适合检测金属和非金属元素。· 能量色散X射线光谱（EDS）：通常与扫描电子显微镜（SE

光电传感器，是一种检测光信号并将其转换为电信号的传感器件，其既可用于检测光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等可直接引起光量变化的非电量，也可用于检测零件直径、表面粗糙度、应变、位移等可间接转换为光量变化的非电量。光电传感器的型号有很多种，