1、D类放大器的热损耗分析
D类放大器虽然效率高达85-95%,但剩余5-15%的能量仍会转化为热量,主要来自:
MOSFET开关损耗(占60%以上)
导通损耗:RDS(on) × I2
开关损耗:(trise + tfall) × fsw × VDS × ID
输出滤波器损耗(LC网络焦耳热)
死区时间导致的交叉导通
2、PCB布局布线优化
①功率器件布局
MOSFET选型:
优先选择低RDS(on)型号(如Infineon IPD90N04S4,RDS(on)=4mΩ)
封装建议:TO-252(DPAK)或DirectFET(底部散热)
布局规则:
功率MOSFET间距≥5mm(避免热耦合)
对称布局(如半桥电路的上下管镜像对称)
②铜箔
PS:使用十字连接避免焊接冷焊,同时保证热传导。
3、主动散热方案
散热器选型
自然对流:铝挤散热器(如Aavid 580200B00000G)
强制风冷:选用轴流风扇(如Sunon MF60251VX)
4、热仿真与测试
①仿真关键步骤
建立3D模型(Allegro 3D Canvas或Flotherm)
设置边界条件:
环境温度:25℃(工业级按55℃)
风速:自然对流按0m/s,强制风冷按1-2m/s
验收标准:
MOSFET结温Tj ≤ 125℃(硅器件)
PCB热点温度 ≤ 105℃(FR4极限)
②实测方法
红外热像仪(FLIR E8):关注MOSFET、电感和输出滤波电容
热电偶(K型):贴在MOSFET引脚根部(反映真实结温)
总结:
高效散热=30%器件选型+40%PCB设计+30%系统整合。关键记住三点:
热量要导得出(铜厚/过孔/导热材料)
热量要散得走(散热器表面积/风道设计)
源头要控得住(开关频率/死区时间优化)
避坑提醒:
❌ 勿用FR4做散热主体(导热系数仅0.3W/mK)
✅ 优先考虑MOSFET背面散热(如Flip-Chip封装)
暂无评论