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凡亿专栏 | 光敏电阻光线(可见光)的强弱变化实验案例
光敏电阻光线(可见光)的强弱变化实验案例
突然发现上个月买的单片机盒子里有个光敏电阻,这个没玩过,所以赶紧试试。光敏电阻器的阻值随入射光线(可见光)的强弱变化而变化,在黑暗条件下,它的阻值(暗阻)可达1~10M欧,在强光条件(100LX)下,它阻值(亮阻)仅有几百至数千欧姆。下面看一下电路图:(我们把光敏电阻接入AIN0通道的J2插针处)如何操作AD还是按照前篇文章的三步走战略,但是光敏电阻组值变动范围太大,很难严格的说出量程范围,我们只需要大体估计个就行,反正有比例关系。我们知道当没有光照射的时候,光敏电阻阻值最大,AD将获得最大值(全1),我们索性规定当没有光照射的时候,输入的电压就是5V,这样对应的系数就有了,255 / 5 = 51 。(有些朋友可能会乱,哪里来这么多的规定!?要明白我要要检测AD转换的数字值,8位AD最大只能显示255,所以你模拟量再怎么变,AD最大到255就不动了,也许AD达到255的时候,我们估计的电阻值距离实际电阻值相差甚远,不过没关系,大体的比例关系有了),确定了系数就好了(51),没有光照情况下,将输出5.0V,其他的值就类推就OK了。那怎么用呢,在程序中,我们可以检测测量到的值,当>4.5可粗略认为没有光照,当>3.0V且<4.5V代表有弱光照射,当<3.0V可代表有强光照射,进而我们可以进行其他的控制。我这里做实验只是简单的用LCD显示一下:(上图为光敏电阻有弱光照)(上图为光敏电阻有稍强光照)代码非常简单:#include "1602.h"#include "iic.h"#include uchar temp,AIN0,TempData[2];int main(){ INIT_1602(); IIC_INIT(); while(1) { temp = read_byte(0x91,0x40); AIN0 = read_byte(0x91,0x40); TempData[0] = AIN0 / 51; TempData[1]=(((uchar)(((float)AIN0 / 51) * 10)) % 10); write_byte_lcd(0,7,0x30 + TempData[0]); write_byte_lcd(0,8,'.'); write_byte_lcd(0,9,0x30 + TempData[1]); }}工程文件:
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