在IC设计中，可测性设计是很重要的内容，如果设计不当，将导致后续测试无法进行，或覆盖率降低，这两种都会大幅降低IC产品的竞争力，因此IC设计必须做好可测性设计，保证测试无误，下面就盘点可测性设计中遇见的问题及解决方法。

1、设计中用到了时钟的两个边沿；

多边沿的处理：设计中的寄存器最好使用一个时钟沿，若在一个扫描链中，一些寄存器用上升沿，一些寄存器用下降沿，则覆盖率会受到影响，若设计中必须用到两个石中盐，则最好将不同时钟触发的寄存器放入不同的扫描链中。

2、设计中存在多个时钟域；

多时钟域的处理：在一个设计中往往存在多个时钟，这些时钟分别做成时钟树，有不同的延时，而在扫描模式下，时钟信号统一来自外部端口，扫描时钟信号经过不同的时钟树，会有不同的延时，因此表现为较大的时钟偏差。这时候，当数据在扫描链中进行移位时，可能将产生建立时间、保持时间错误，解决方法是在扫描链上跨两个时钟域的地方接入一个锁存器（lock up锁存器）。

3、有门控时钟；

在许多设计中，例如在低功耗设计中，存在着门控时钟逻辑，而在扫描时，时钟不能被阻断，这时候需加入控制逻辑，以避免时钟门控逻辑的影响。

4、有内部生成的时钟信号；

内部生成时钟信号的处理：在IC系统中，经常用到内部生成的时钟信号，最常见的例子是分频时钟，若内部生成的时钟驱动的寄存器直接接入扫描链中，则一些寄存器的时钟信号是另一些寄存器的数据输出，这样在扫描移位时将引发问题。

解决方法：利用MUX，在测试时使用外部引脚输入的时钟。

由于文章篇幅的限制，将此文分为上下两篇，欲看下篇可点击右侧链接《可测性设计中常见问题及解决方法（下）》。