STM32 ADC 是 12 位逐次逼近型，采样时间要大于信号源阻抗×ADC 输入电容（一般 10~100 周期）；多通道用规则组+DMA 自动搬运，不用 CPU 干预；注意参考电压 Vref+ 和输入范围。
本文概述
ADC 是单片机最常用外设，面试常考：采样时间、多通道、DMA、精度。回答要讲清采样时间和源阻抗关系。
核心要点
STM32 ADC 12 位，逐次逼近 SAR，输入范围 0~Vref+
采样时间 = 源阻抗 × 采样电容（约 5~10pF），一般选 10~100 周期
多通道：规则组（顺序采样）+注入组（高优先级）
DMA：ADC 转换完自动搬到内存，CPU 不干预
精度影响：参考电压噪声、源阻抗、采样时间、地弹
面试官考察点
ADC 基础题。面试官看你是否理解采样电容充电。重点听：RC 时间常数。
回答思路
讲 ADC 输入等效电路是开关+电容，采样时间要让电容充到稳定值。
参考回答
ADC 输入等效电路。采样阶段，开关闭合，外部信号通过源阻抗 Rs 给 ADC 内部采样电容 Cadc（约 5~10pF）充电。
充电时间常数。
τ = Rs × Cadc
要充到 12 位精度（误差 < 1/4096 ≈ 0.024%），需要约 9 个时间常数：
Tsample ≥ 9 × Rs × Cadc
举例。Rs=10kΩ，Cadc=8pF：
τ = 10k × 8p = 80ns
Tsample ≥ 9 × 80ns = 720ns
ADC 时钟 12MHz（83ns/周期），需要至少 9 周期，选 15 或 28 周期留余量。
| 源阻抗 | 推荐采样时间 |
|---|---|
| <1kΩ（运放驱动） | 3~15 周期 |
| 1~10kΩ（分压电阻） | 15~56 周期 |
| >10kΩ（传感器直连） | 56~100+ 周期，或加运放缓冲 |
多通道+DMA。
配置规则组通道顺序（如 CH0, CH1, CH2）；
开扫描模式（Scan Mode），依次转换；
开 DMA，ADC 数据寄存器 → 内存数组；
转换完 DMA 自动搬运，CPU 可以做别的事；
DMA 完成中断里处理数据（滤波、上报）。
精度注意。
Vref+ 要干净（加 10uF+0.1uF 去耦）；
模拟地和数字地单点连接；
高源阻抗加运放缓冲（电压跟随器）；
多次采样取平均（过采样）提高有效位数。
面试官可能追问
常见失分表达
准备动作
核心关键词
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