在电子设备的运行中，总会遇见电子元器件的失效现象，但你知道吗？这些元器件的主要失效模式及分布概率都不一样，也就是说你自认为的元件A的失效模式，不适合元件B，今天本文将选取五种常见的元器件，谈谈它们的失效模式及概率。1、网络电阻开路：0.92

FPGA的IO用于做外部的MCU的复位功能，导致MCU内部复位失效问题详细描述为了方便在板卡板卡复位，我们的硬件工程师在做单板设计时，把MCU的复位IO 连接了到FPGA，可以通过FPGA来复位板卡的MCU。但是测试时发现，如果是单板状态，可以顺利下载固件，但是如果是集成情况下无法正常下载固件，且看

随着电子技术的飞速发展，印刷电路板（PCB）作为电子设备的重要组成部分，然而由于各种因素的影响，PCB在制造和使用过程中可能出现各种失效问题，为了及时解决问题，提高PCB的质量及可靠性，失效分析技术应运而生，下面将谈谈，如何根据电路需求合理

在电子电路中，电阻器是不可或缺的基础元件，其稳定性和可靠性决定着整个系统的性能，所以在学习电路时，可以先了解下电阻器的失效模式和失效机理。1、开路失效失效机理：电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。2、阻值漂移超规范失效机理

电阻在电路中起到限流、分压和消耗功率的作用，如果电阻损坏或出现问题，会导致电路性能下降甚至完全失效。以下是电阻损坏可能表现出的一些情况：电路不工作或工作异常：如果电阻损坏，可能导致电路无法正常工作或产生异常现象，如电路不通电、无法正常分压或

在电磁场分析与设计中，当集总参数方法因电小尺寸条件无法满足而失效时，全波仿真算法成为解决复杂电磁问题的关键工具。这些算法基于场论，通过数值方法求解麦克斯韦方程组，为电磁兼容、天线设计、微波电路等领域提供了强有力的支持。1、矩量法（MoM）将

IC芯片（集成电路芯片）损坏可能导致多种故障，具体影响取决于芯片的功能和应用。以下是一些常见的故障表现：1. 功能失效· 整体失效：芯片完全无法工作，导致整个电路或设备无法启动。· 部分功能失效：芯片的某些功能模块失效，可能导致设备的部分功

本篇主要介绍导致电子产品失效的几种主要环境应力，内容节选自《电子微组装可靠性设计（基础篇）》，本篇的思维导图如下电子产品的工作过程中，除了电载荷的电压、电流等电应力外，环境应力还包括高温和温循、机械振动和冲击、潮湿和盐雾、电磁场干扰等。在上述环境应力的作用下，产品可能出现性能退化、参数漂移、材料腐蚀

电子元器件的失效可能由多种因素引起，了解这些原因及相应的检测方法对于提高产品的可靠性和性能至关重要。以下是常见的失效原因及检测方法。失效原因1. 环境因素：- 温度：过高或过低的温度会导致元器件性能下降，甚至失效。- 湿度：高湿度环境可能导

元器件的DPA（Destructive Physical Analysis，破坏性物理分析）检测是一种深入分析和评估电子元器件性能、可靠性和失效原因的方法。以下是一些需要进行DPA检测的情况：1. 失效分析· 当电子元器件在正常工作条件下发

MOS管作为电子电力系统中的核心元件，其稳定性和可靠性是很多工程师的重点之重，其中SOA失效是MOS管常见的失效模式之一，主要由于超出其安全工作区域而导致的热损坏或电气击穿，那么如何预防？1、如何判断MOS管是否SOA失效？①监测温度：最直

在电子设计中，MOS管（金属氧化物半导体场效应晶体管）作为关键元件，其稳定性直接关系到整个电路的性能和可靠性。但如果遇到MOS管雪崩失效，必须提前做好预防措施，那么如何做？1、如何判断MOS管是否雪崩失效？①观察电压波形在MOS管工作时，使

在电子元件中，MOS管（金属-氧化物-半导体场效应晶体管）因其具备高输入阻抗、低噪声级良好的开关特性备受工程师的青睐，然而在使用MOS管时可能会遇见其失效现象，那么这些失效现象是如何形成的？1、雪崩失效（电压失效）当MOS管的漏源电压（BV

金属材料的耐蚀测试是评估其在腐蚀环境中性能的重要手段。以下是耐蚀测试的重要性和应用领域的详细介绍。一、耐蚀测试的重要性1. 确保材料可靠性：- 耐蚀测试帮助确定金属在特定环境下的耐蚀性能，确保其在实际应用中不会因腐蚀导致失效。2. 延长使用

芯片失效分析是确保半导体产品质量和可靠性的重要环节。实验室中常用的失效分析方法和手段包括：1. 光学显微镜检查· 外观检查：使用光学显微镜观察芯片的表面缺陷、焊点质量、封装完整性等。· 缺陷定位：对可见缺陷进行定位，帮助后续分析。2. 扫描

在高速数字信号处理（DSP）系统中，电磁干扰（EMI）是一个不容忽视的关键问题，由于DSP系统涉及高频信号处理和复杂电路布局，电磁环境更加复杂，很容易有信号失真、系统不稳定甚至功能失效等问题，所以工程师需要了解下DSP系统的电磁干扰问题。1

所有电子产品都带有一定的静电，静电过大可能会导致电路损坏、性能下降甚至功能失效，所以必须做好静电放电（ESD）防护，本文将列出一系列直接切具体的静电保护策略，旨在帮助工程师有效应对静电威胁。1、关键信号并联雪崩二极管在易受静电干扰的关键信号

电子元器件的失效原因可以从多个方面进行分类，主要包括以下几种：1. 材料因素· 材料老化：电容器、绝缘材料等随着时间的推移可能会劣化，导致性能下降。· 化学反应：某些材料在特定环境中可能发生化学反应，导致失效（如电解电容器中的电解液蒸发）。