在嵌入式开发中，很多工程师需要通过接口来调试，传统的调试方法如：JTAG接口，在多年的应用中已证明其有效性，但随着技术发展，SWD接口作为一种新兴调试方式，逐渐崛起，本文将针对这两个接口调试方法进行对比，希望对小伙伴们有所帮助。1、高速模式

串行调试（Serial Wire Debug，简称SWD）是一种调试协议及对应的硬件接口，也是一种用于微控制器和其他嵌入式系统的调试接口，与JTAG接口相比，SWD接口具有引脚数量少、结构简单的特点。1、SWD接口的引脚数量JTAGV6/J

在嵌入式开发和芯片调试中，JTAG接口允许开发者通过边界扫描技术访问芯片的内部寄存器，是很重要的工具之一。然而在使用JTAG电缆进行程序下载时，可能会觉得下载速度太慢了，那么如何提高其速度？方法一：利用嵌入式系统通过USB/Ethernet

半导体芯片（IC）的检测是确保其性能和可靠性的重要环节。常用的试验方法包括：1. 功能测试· 功能验证：检查芯片的基本功能是否正常，确保其按照设计规格运行。· 边界扫描测试：使用边界扫描技术（如JTAG）测试芯片的输入输出端口，验证电路连接

在现场可编程门阵列（FPGA）的程序开发过程中，程序烧写是不可或缺的重要环节，然而在该环节经常听见JTAG和Flash，在某些情况下，FPGA的程序需要通过这两个方式进行双重烧写。1、FPGA程序烧写FPGA程序烧写是指将开发者编写的硬件描

FPGA（现场可编程门阵列）作为可编程逻辑设备，一直广泛应用在各种数字系统设计，而JTAG接口是其中最常用的调试/编程接口，它的好坏将直接影响到FPGA的性能和可靠性。因此要对JTAG进行诊断和测试，以防止FPGA出故障，那么如何做？1、J

在IC设计阶段，为保证所设计的产品顺利上市，具有更高的竞争力，很多工程师会进行可测性设计确保无误，其中常用的方法莫过于基于JTAG的可测性设计，今天就给小伙伴们科普基于JTAG的可测性设计，希望能帮上忙。JTAG，也叫做边界扫描BSD，最初